Broadcom 的 AFBR-S4N44C013 是单 SiPM 器件，用于单光子的超灵敏、高精度测量。
有效面积为 3.72 mm x 3.72 mm。单芯片通过硅穿孔技术 (TSV) 技术实现了高封装密度。通过平铺多个 AFBR-S4N44C013 阵列来覆盖较大的区域，显着降低了任何边缘损失的可能性。钝化层采用低至 UV 波长的高透明度玻璃。这导致在可见光谱中响应广泛，对光谱中蓝色和近紫外区具有高灵敏度。
该 SiPM 非常适用于检测低水平脉冲光源，特别是 Cherenkov 光或来自极为常见的有机塑料材料和无机闪烁材料的闪烁光，具体包括 LSO、LYSO、BGO、Nal、Csl、BaF 和 LaBr。