MOSFET(金属-氧化物-半导体场效应晶体管)是一种常用的半导体器件,广泛应用于模拟和数字电路中。以下是一些常见的MOSFET参数及其意义:
1. ID(漏极电流): 这是MOSFET在导通状态下,从漏极流向源极的最大电流。ID通常与VGS(栅极-源极电压)和VDS(漏极-源极电压)有关,并且受到器件的物理尺寸和材料特性的限制。
2. VGS(栅极-源极电压): 这是加在栅极和源极之间的电压,用于控制MOSFET的导通和截止。当VGS达到阈值电压(Vth)时,MOSFET开始导通。VGS的增加可以增加漏极电流ID。
3. VDS(漏极-源极电压): 这是加在漏极和源极之间的电压。在MOSFET导通时,VDS可以影响ID的大小。当VDS增加时,ID也会增加,直到达到饱和区。
4. Vth(阈值电压): 这是MOSFET开始导电所需的最小VGS。不同的工艺和设计会导致不同的阈值电压。
5. RDS(on)(导通电阻): 这是MOSFET在导通状态下,漏极和源极之间的电阻。RDS(on)越小,器件的导通损耗越低。
6. Qg(栅极电荷): 这是MOSFET导通所需的栅极电荷量。Qg与VGS和栅极电容有关。
7. Ciss(栅极-源极电容): 这是栅极和源极之间的电容。Ciss影响MOSFET的开关速度。
8. Coss(栅极-漏极电容): 这是栅极和漏极之间的电容。在开关过程中,Coss会影响MOSFET的电荷存储和放电。
9. Cds(漏极-源极电容): 这是漏极和源极之间的电容。在某些应用中,Cds会影响电路的稳定性。
10. VDS(max)(最大漏极-源极电压): 这是MOSFET能够承受的最大VDS,超过这个电压可能会导致器件损坏。
11. PD(最大功耗): 这是MOSFET在最大工作条件下能够承受的功耗。
12. Tj(最大结温): 这是MOSFET能够承受的最高温度,超过这个温度可能会导致器件性能下降或损坏。
13. Tstg(存储温度): 这是MOSFET在非工作状态下能够承受的最高温度。
14. IQ(栅极驱动电流): 这是驱动MOSFET栅极所需的电流。
15. Vgsm(最大栅极-源极电压): 这是MOSFET能够承受的最大VGS,超过这个电压可能会导致栅极氧化层损坏。
这些参数对于设计和使用MOSFET至关重要,它们决定了器件的性能、可靠性和适用性。在设计电路时,工程师需要根据应用需求选择合适的MOSFET,并确保其工作在规定的参数范围内,以避免损坏和性能下降。
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